Высокочастотные решения для беспроводных технологий

Разработка СВЧ микросхем (МИС), прецизионные измерения и точные модели активных компонентов

Наши экспертные услуги

Разработка СВЧ МИС

Индивидуальные проекты усилителей, смесителей, генераторов и аттенюаторов на базе транзисторных полупроводниковых технологий (GaAs, GaN, Si).

Load-Pull измерения

Определение оптимальных импедансов для достижения максимальной мощности, КПД и линейности транзисторов и усилителей.

Импульсные измерения

Снятие S-параметров и ВАХ в импульсном режиме для термостабильного моделирования и анализа работы в режиме большого сигнала.

Компактное моделирование

Создание точных нелинейных моделей (Angelov, EEHEMT, ASM) для симуляции в Keysight ADS, Cadence AWR, ANSYS HFSS.

От данных к модели

Создание точных нелинейных моделей транзисторов

Экстракция параметров

Измерение S-параметров в широком диапазоне токов и напряжений для получения статических и малосигнальных характеристик.

Сбор данных большого сигнала

Проведение Load-Pull измерений на различных частотах и режимах смещения для анализа нелинейного поведения.

Импульсные измерения

Получение "холодных" ВАХ для учета тепловых и trapping-эффектов в современных полупроводниковых приборах.

Подбор и оптимизация модели

Использование современных моделей (Angelov, EEHEMT, ASM) и методов оптимизации для наилучшего соответствия между измеренными и смоделированными данными.

Валидация

Проверка модели на тестовых схемах, отличных от тех, что использовались при экстракции параметров.

Технологии и материалы

Полупроводниковые технологии

GaAs • GaN • Si • GaN HEMT

Поддерживаемые САПР

Keysight ADS • Cadence AWR • ANSYS HFSS

Ключевые модели

ASM • Angelov • EEHEMT

База знаний

Наши исследования и публикации в области СВЧ-моделирования

Сравнение нелинейных моделей транзисторов

Angelov vs. EEHEMT vs. ASM: подробный анализ точности и областей применения различных подходов к моделированию.

Особенности экстракции параметров модели ASM для GaN HEMT

Методика и практические рекомендации по созданию точных моделей для современных GaN транзисторов.

Моделирование trapping-эффектов с использованием модели ASM

Подходы к учету динамических эффектов в мощных полупроводниковых приборах для повышения точности прогнозирования.